X-ışını
difraksiyonu yöntemi, daha çok mineral tanımlaması (kalitatif analiz) için
kullanılırken, kantitatif kimyasal analiz için titrasyon, X-Ray Fluressance,
Atomik Absorbsiyon Spektrometresi, İndüktif çiftlenmiş plazma kütle
spektrometresi gibi yöntemler kullanılmaktadır. Kantitatif analiz yöntemleri,
temelde analiz yöntemleri ve sonuçları bakımından benzer olmasına karşın analiz
tiplerine göre büyük farklılıklar göstermektedir. X-Işını kırınımı tekniği ile
kalitatif yani mineral tanımlama işlemi yapılırken, başka teknikler
kullanılarak bu minerallerin kantitatif sonuçları da elde edilebilmektedir. Bu
yöntem tercihi, bir numunede belirli bir mineral türünün kantitatif analizinin
araştırıldığı çalışmalarda önem arz etmektedir. Örneğin, bir kayaç
numunesindeki Silisyum (Si) ve Kuvars (SiO2) oranı birbirinden
farklıdır. Çünkü silisyum sadece kuvarstan değil, kayaç içerisindeki diğer
silisyum bileşiklerinden de kaynaklanmaktadır. Bir kayaç içerisindeki kuvars
miktarı ince kesit veya parlak kesit hazırlanarak Polarize Işık Mikroskobu
(PLM) ile tespit edilirken, silisyum içeriği sadece titrasyon (yaş kimyasal
analiz) ile tespit edilebilmektedir. Bu nedenle bireysel minerallerin
kantitatif analizinde X-Işını kırınımı tekniğinin çok daha etkin sonuçlar
vermesi beklenmektedir.
Bu
çalışmada, bilinen değişik oranlardaki kalsit ve kuvars mineralleri XRD
rietveld teknikleri ile tespit edilmiştir. Çalışma sonucunda oldukça iyi
değerler elde edilmiş olup, kişisel tecrübenin de yardımı ile bir örnekteki
mineral tayinlerinde sağlıklı sonuçlar vereceği görülmüştür.
Adana Alparslan Türkeş Bilim ve Teknoloji Üniversitesi BAP birimi
17103011
Bu çalışma Adana Alparslan Türkeş Bilim ve Teknoloji Üniversitesi BAP birimi 17103011 nolu proje kapsamında desteklenmiştir.
17103011
Primary Language | Turkish |
---|---|
Journal Section | Research Articles |
Authors | |
Project Number | 17103011 |
Publication Date | December 31, 2019 |
Published in Issue | Year 2019 Volume: 2 Issue: 2 |