Bu çalışmada, makine öğrenmesi tekniklerinin sınıflandırmada yüksek performans elde edebileceği ve büyük veri setleri ile etkin ve ölçeklenebilir bir şekilde çalışabileceği vurgulanmıştır. Bu çalışmada kullanılan veri seti www.kaggle.com adresinden elde edilmiştir. Google, Amazon, Netflix, Facebook, Apple ve Microsoft'ta çalışan kişilerden toplanan toplam 67529 yorum değerlendirilmiştir. N-gram modeli, metin madenciliğinde önemli bir temsil şemasıdır. N-gram modelleri, unigram modeli (N = 1), bigram (N = 2) ve trigram (N = 3) şeklindedir. TP, TF ve TF-IDF olmak üzere üç farklı ağırlıklandırma şeması ve N-gram modeli (bigram, unigram ve trigram) olarak geleneksel makine öğrenmesi tabanlı analiz için üç farklı ağırlıklandırma şeması kullanılmıştır. Modelleri eğitmek için beş farklı denetimli öğrenme algoritması kullanılmıştır: Naive Bayes, Destek Vektör Makineleri (SVM), Lojistik Regresyon (LR), K-En Yakın Komşu (KNN) ve Rastgele Orman (RF).
In this paper it was emphasized that machine learning techniques can achieve high performance in classification and work effectively and scalably with large data sets. The dataset used in this study was obtained from www.kaggle.com. A total of 67529 comments collected from people working at Google, Amazon, Netflix, Facebook, Apple and Microsoft were evaluated. The N-gram model is an important representation scheme in text mining. N-gram models are the unigram model (N = 1), bigram (N = 2), and trigram (N = 3). Three different weighting schemes as TP, TF, and TF-IDF, and three different weighting schemes for traditional machine learning-based analysis as N-gram model (bigram, unigram and trigram) was used. Five supervised learning algorithm was used to train models: Naive Bayes, Support Vector Machines (SVM), Logistic Regression (LR), K-Nearest Neighbor (KNN) and Random Forest (RF).
Primary Language | English |
---|---|
Subjects | Engineering |
Journal Section | Articles |
Authors | |
Early Pub Date | September 26, 2022 |
Publication Date | September 30, 2022 |
Published in Issue | Year 2022 Issue: 40 |