In this study,
the relationship between subtest and total test was investigated by using
hierarchical item response theory models in order to contribute to reliable
subtest and total test score estimates. The RMSE and reliability of the total
test score and subtest scores estimated by the Higher Order, Bi-factor and
hierarchical MIRT models in the study were compared under the conditions of the
size of the correlations between the subtests, subtest length and number of
subtests. In addition, the performance of three models used in the research was
examined on TEOG 2015 data. As a result of the study, in almost all conditions,
when the correlation between the subtest and the subtest length increased, the
RMSE of the ability parameters decreased and the reliability increased for the
total test score obtained from the three estimation models. Under all
conditions, the lowest RMSE values and the highest reliability values were yielded
from Hierarchical MIRT model for subtest score recovery and from Hierarchical
MIRT model for total test score recovery. In addition, all models estimated
RMSE and reliability values close to each other at 0.8 level of correlation for
total test score recovery. The RMSE values of the ability parameters for the
subtest scores in two and three dimensional data were found to be not affected
by the correlation level between the subtests while the subtest length
decreased in the Hierarchical MIRT model; were found to decrease as the
correlation between subtest and subtest length in the Higher Order model and
were found to decrease as the subtest length increased, but significantly
increased as the correlation between the subtests increased in the Bi-factor
model.
subtest scoring overall test scoring hierarchical item response theory models higher order model bi-factor model
Bu
araştırmada güvenilir alt test ve toplam test puanı kestirimleri konusuna katkı
sağlamak amacıyla alt test ve toplam test arasındaki ilişki hiyerarşik madde
tepki kuramı modelleri ile araştırılmak istenmiştir. Çalışmada Üst Düzey Sıralı
(Higher Order), İki Faktör (Bi-factor) ve hiyerarşik çok boyutlu madde tepki
kuramı (ÇBMTK) modelleri ile kestirilen toplam test puanının ve alt test
puanlarının RMSE ve güvenirlik değerleri alt test sayısı, alt test uzunluğu ve
alt testler arasındaki korelasyonların büyüklüğü koşulları altında
karşılaştırılmıştır. Ayrıca TEOG 2015 verileri üzerinde araştırmada kullanılan
üç kestirim modelinin performansı incelenmiştir. Araştırmanın sonucunda iki ve üç boyutlu verilerde hemen hemen tüm
koşullarda alt test uzunluğu ve alt testler arasındaki korelasyonun arttıkça üç
kestirim modelinden elde edilen toplam test puanı için yetenek parametreleri
kestirim hatasının azaldığı, kestirim güvenirliğinin ise arttığı bulunmuştur.
Toplam test puanları için Hiyerarşik ÇBMTK model ile tüm koşullarda en düşük
RMSE değeri ve en yüksek güvenirlik değeri elde edilmiştir. Ayrıca korelasyonun
0.8 düzeyinde toplam test puanı için tüm modeller birbirine yakın RMSE ve
güvenirlik değerleri ile kestirim yapmıştır. İki ve üç boyutlu verilerde alt test
puanı için kestirilen yetenek parametrelerinin RMSE değerleri, Hiyerarşik ÇBMTK
modelde alt test uzunluğu arttıkça azalırken alt testler arasındaki korelasyon
düzeyinden etkilenmediği; Üst Düzey Sıralı modelde alt test uzunluğu ve alt
testler arasındaki korelasyon arttıkça azaldığı; İki Faktör modelde ise alt
test uzunluğu arttıkça azalırken alt testler arasındaki korelasyon arttıkça
önemli düzeyde arttığı bulunmuştur.
Alt test puan kestirimi toplam test puan kestirimi hiyerarşik madde tepki kuramı modelleri üst düzey sıralı model iki faktör model
Primary Language | Turkish |
---|---|
Journal Section | Articles |
Authors | |
Publication Date | June 30, 2018 |
Acceptance Date | June 13, 2018 |
Published in Issue | Year 2018 Volume: 9 Issue: 2 |