Abstract
Mikro analitik teknikler, cevher karakterizasyon çalışmalarında yaygın bir şekilde kullanılmaktadır.
Altın cevherlerinin, özellikle refrakter altın cevherlerinin karakterizasyonunda da etkin bir şekilde
kullanılan bu teknikler, doğruluk ve hassasiyeti yüksek oldukça faydalı bilgiler sunmaktadır. Cevher
hakkındaki bu bilgiler doğru proses seçiminin yapılmasına ya da mevcut prosesin etkin bir şekilde
kontrol edilmesine olanak sağlamaktadır. Bu çalışmada, altın cevherlerinin karakterizasyonunda,
mikroskobik (visible) altının belirlenmesinde kullanılan (QEMSCAN) (Quantitative Evaluation
of Mineralogy by Scanning Electron Microscope), MLA (Mineral Liberation Analyzer) gibi SEM
(Scanning Electron Microscopy) temelli geliştirilmiş modern otomatik analiz yöntemlerinin yanı
sıra refrakter altın cevherlerinde mikroskop altında kolayca görülemeyen, çok ince ‘invisible’
altının belirlenmesinde kullanılan EPMA (Electron-Probe Micro-Analysis), μ-PIXE (Microparticle-
induced X-ray emission) ve SIMS (Secondary-Ion Mass Spectrometry) gibi yaygın
olarak kullanılan mikro analitik yöntemler tanıtılmakta ve yapılan güncel çalışmalardan örnekler
sunulmaktadır.