Çok Özellikli Ürünlerin Testinde Makine Seçim Optimizasyonu İçin Kısıt Programlama Uygulaması

Year 2014, Volume: 22 Issue: 22, - , 01.09.2014

Onur Koyuncu

Abstract

Test süreci, özellikle karmaşık ürünler için, işletme kaynaklarının doğru planlanmasını gerektiren önemli bir maliyet kapısıdır. Çok özellikli ürünlerin testleri ise çıktı kalitesini ve ilintili maliyetleri doğrudan etkilemektedir. Literatürde test ve tamir makinesi seçimi, bir optimizasyon problemi olarak ele alınmamaktadır. Bu çalışmada mükemmel olmayan bir test ve tamir döngüsü altında çok özellikli ürünlerin testi için makine seçim optimizasyonu problemini çözecek bir kısıt programlama modelinin yapısı açıklanmaktadır. Tamir makineleri için de genellenebilecek bu model, gerçekçi bir maliyet hesabı yaklaşımıyla ideal test makinesi seçimi yapılmasına yardım etmektedir.

Keywords

-

References

• Chen, T.Y. & M.F. Lau (1998), “A New Heuristic for the Test Suite Reduction”, Information and Software Technology, 40, 347–354.
• Dick, J.H. & E. Trischler & C. Dislis & A.P. Ambler (1994), “Sensitivity Analysis in Economic Based Test Strategy Planning”, Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA), 5, 239–252.
• Dislis, C. & I.D. Dear & S.C. Lau & J.R. Miles & A.P. Ambler (1988), “Hierarchical Test Strategy Planning Based on Cost Evaluation”, IEE Colloquium on Computer Aided Test and Diagnosis, 7/1–7/8.
• Fisher, E. & S. Fortune & M. Gladstein & S. Goyal & W.B. Lyons & J. Mosher & G. Wilfong (2007a), “Economic Modeling of Global Test Strategy I: Mathematical Models”, Bell Labs Technical Journal, 12 (1), 161–173.
• Fisher, E. & S. Fortune & M. Gladstein & S. Goyal & W.B. Lyons & J. Mosher & G. Wilfong (2007b), “Economic Modeling of Global Test Strategy II: Software System and Examples”, Bell Labs Technical Journal, 12 (1), 175–186.
• Flehinger, B.J. (1965), “Product Test Planning for Repairable Systems”, Technometrics, 7 (4), 485–494.
• Gluss, B. (1959), “An Optimum Policy for Detecting a Fault in a Complex System”, Operations Research, 7 (4), 468–477.
• Goyal, S. & J.H. Mosher (2006), “An Improved Test Process Model for Cost Reduction”, Bell Labs Technical Journal, 11 (1), 173–190.
• Nachlas, J.A. & S.R. Loney & B.A. Binney (1990), “Diagnostic–Strategy Selection for Series Systems”, IEEE Transactions on Reliability, 39 (3), 273–280.
• Pomeranz, I. & S.M. Reddy (2003), “On Maximizing the Fault Coverage for a Given Test Length Limit in a Synchronous Sequential Circuit”, Proceedings of the 21st IEEE VLSI Test Symposium (VTS’ 03).
• Rossi, R. & S.A. Tarım & B. Hnich & S. Prestwich (2006), “Multi-Component Testing in Telecommunications”, Proceedings of the European Conference on Operational Research EURO XXI.
• Volkerink, E.H. & A. Khoche & L.A. Kamas & J. Rivoir & H.G. Kerkhoff (2001), “Tackling Test Trade–Offs from Design, Manufacturing to Market Using Economic Modeling”, Proceedings of the IEEE International Test Conference, 1098–1107.
• Wilson, S. & B. Flood & S. Goyal & J. Mosher & S. Bergin & J. O’Brien & R. Kennedy (2007), “Parameter Estimation for a Model With Both Imperfect Test and Repair”, Proceedings of 25th IEEE VLSI Symposium (VTS’07).
• Wilson, S. & S. Goyal (2012), “Estimating Production Test Properties from Test Measurement Data”, Applied Stochastic Models in Business and Industry, 28, 542–557.