In this study, the effects of Se and
Te substitution on structural and morphological properties of SnSeTe (TSeTe)
thin films are studied. TSeTe thin films are fabricated by using the physical
vapor deposition (PVD). In order to determine the structural and morphological
properties of these films, XRD (X-ray diffraction), SEM (Scanning electron
microscopy), EDXA (Energy dispersive X-Ray analysis), Raman Analysis, and AFM
(Atomic Force Microscopy) measurements are carried out. Then, different
post-annealing processes are applied to figure out the heat treatment effects
on the thin film properties
Thin film structural characterization XRD SEM Raman analysis
Bu çalışmada Se ve Te değişiminin fiziksel buharlaştırma tekniği (FBT) ile üretilmiş SnSeTe (TSeTe) ince filmlerinin yapısal ve morfolojik özelliklerine etkisi incelenmiştir. Bu filmlerin yapısal ve morfolojik özelliklerini belirlemek için XRD ( X-ışını Kırınım Deseni), SEM( Taramalı Elektron Mikroskobu), EDXA (Enerji Dağılımlı X-ışını Analizi), Raman Analizi ve AFM (Atomik Kuvvet Mikroskobu) ölçümleri yapılmıştır. Ardından ısının film özelliklerine etkisini gözlemlemek için üretim sonrası farklı sıcaklıklarda tavlama işlemleri uygulanmıştır.
İnce Film Yapısal Karaterizasyon Taramalı Elektron Mikroskopu XRD Raman Analizi
Birincil Dil | İngilizce |
---|---|
Konular | Mühendislik |
Bölüm | Makaleler |
Yazarlar | |
Yayımlanma Tarihi | 31 Aralık 2018 |
Yayımlandığı Sayı | Yıl 2018 Sayı: 14 |