Çalışmamızda Ag katkılanmış CdO ince filmlerinin (ITO) altlık üzerine sıcak püskürtme (Spray) tekniği ile altlıklar 400⁰C sabit sıcaklıkta iken büyütülme işlemi gerçekleştirilmiş ve üretilen ince filmlerin yapısal özellikleri araştırılmıştır. X-Işını Kırınımı (XRD) cihazı ile yapısal inceleme yapılmış, XRD sonuçlarından numunelerin polikristal kübik yapıda olduğu, tercihi yönelimlerinin katkı miktarının değişimiyle değişmeyip (111) düzlemi olduğu ve 23 nm civarında ortalama kristal boyutuna sahip olduğu görülmüştür. Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) ile ince filmlerin görüntüleri incelenmiş, Ag katkı oranı değişiminin yüzey morfolojisinde önemli bir değişime neden olmadığı görülmüştür.
In the study, Spray pyrolysis technic was used to grow Ag-doped CdO thin films on Indium Tin Oxide (ITO) substrates. Temperatures of ITO substrates were fixed at 400⁰C. The structural and morphological properties of the thin films were investigated by X-Ray Diffraction (XRD) and Scanning Electron Microscope (SEM) devices. According to XRD results, the thin films have polycrystalline cubic structure and the average crystal sizes of thin films with Ag dopant are around 23 nm. According to Scanning Electron Microscope (SEM) images, changing of Ag dopant ratio does not effects surface morphology of samples significantly.
Birincil Dil | Türkçe |
---|---|
Konular | Mühendislik |
Bölüm | Makaleler |
Yazarlar | |
Yayımlanma Tarihi | 15 Nisan 2021 |
Gönderilme Tarihi | 7 Mart 2021 |
Kabul Tarihi | 25 Mart 2021 |
Yayımlandığı Sayı | Yıl 2021 Cilt: 11 Sayı: 2 |