BibTex RIS Kaynak Göster

GÜVENLÝK DUVARLARINDA TEST YÖNTEMÝ GELÝÞTÝRÝLMESÝ: TASARIM & UYGULAMA

Yıl 2002, Cilt: 2 Sayı: 1, 344 - 358, 09.01.2012

Öz

GÜVENLÝK DUVARLARINDA TEST YÖNTEMÝ GELÝÞTÝRÝLMESÝ

Yıl 2002, Cilt: 2 Sayı: 1, 344 - 358, 09.01.2012

Öz

Toplam 0 adet kaynakça vardır.

Ayrıntılar

Birincil Dil İngilizce
Bölüm Makaleler
Yazarlar

Serkan Kurt Bu kişi benim

İbrahim Soğukpınar

Yayımlanma Tarihi 9 Ocak 2012
Yayımlandığı Sayı Yıl 2002 Cilt: 2 Sayı: 1

Kaynak Göster

APA Kurt, S., & Soğukpınar, İ. (2012). GÜVENLÝK DUVARLARINDA TEST YÖNTEMÝ GELÝÞTÝRÝLMESÝ: TASARIM & UYGULAMA. IU-Journal of Electrical & Electronics Engineering, 2(1), 344-358.
AMA Kurt S, Soğukpınar İ. GÜVENLÝK DUVARLARINDA TEST YÖNTEMÝ GELÝÞTÝRÝLMESÝ: TASARIM & UYGULAMA. IU-Journal of Electrical & Electronics Engineering. Ocak 2012;2(1):344-358.
Chicago Kurt, Serkan, ve İbrahim Soğukpınar. “GÜVENLÝK DUVARLARINDA TEST YÖNTEMÝ GELÝÞTÝRÝLMESÝ: TASARIM & UYGULAMA”. IU-Journal of Electrical & Electronics Engineering 2, sy. 1 (Ocak 2012): 344-58.
EndNote Kurt S, Soğukpınar İ (01 Ocak 2012) GÜVENLÝK DUVARLARINDA TEST YÖNTEMÝ GELÝÞTÝRÝLMESÝ: TASARIM & UYGULAMA. IU-Journal of Electrical & Electronics Engineering 2 1 344–358.
IEEE S. Kurt ve İ. Soğukpınar, “GÜVENLÝK DUVARLARINDA TEST YÖNTEMÝ GELÝÞTÝRÝLMESÝ: TASARIM & UYGULAMA”, IU-Journal of Electrical & Electronics Engineering, c. 2, sy. 1, ss. 344–358, 2012.
ISNAD Kurt, Serkan - Soğukpınar, İbrahim. “GÜVENLÝK DUVARLARINDA TEST YÖNTEMÝ GELÝÞTÝRÝLMESÝ: TASARIM & UYGULAMA”. IU-Journal of Electrical & Electronics Engineering 2/1 (Ocak 2012), 344-358.
JAMA Kurt S, Soğukpınar İ. GÜVENLÝK DUVARLARINDA TEST YÖNTEMÝ GELÝÞTÝRÝLMESÝ: TASARIM & UYGULAMA. IU-Journal of Electrical & Electronics Engineering. 2012;2:344–358.
MLA Kurt, Serkan ve İbrahim Soğukpınar. “GÜVENLÝK DUVARLARINDA TEST YÖNTEMÝ GELÝÞTÝRÝLMESÝ: TASARIM & UYGULAMA”. IU-Journal of Electrical & Electronics Engineering, c. 2, sy. 1, 2012, ss. 344-58.
Vancouver Kurt S, Soğukpınar İ. GÜVENLÝK DUVARLARINDA TEST YÖNTEMÝ GELÝÞTÝRÝLMESÝ: TASARIM & UYGULAMA. IU-Journal of Electrical & Electronics Engineering. 2012;2(1):344-58.