This
study aims at estimating the parameters with many facet Rasch measurement model
(MFRMM) and hierarchical rater model (HRM) and evaluating together the rater
severty/leniency and parameters obtained from both models if responses given by
the same examinees for open-ended items are scored by multiple raters. In the
scope of collecting study data, the scores assigned by five secondary school
mathematics teachers for responses to eight open-ended items by 380 students,
aged 15, from 10 schools in Çankaya District of Ankara province were used
during the 2nd semester of the 2012-2013 academic year. The study revealed that
rater parameters of MFRMM and HRM were similar in general. According to the
deviation in formation criteria for both models; it was concluded that HRM
provides better fit the data than MFRMM and the structure of assigned multiple
scores regarding one single response to one single item is reflected beter by
the HRM.
Rasch Measurement Model Hierarchical Rater Model Rater Parameters
Bu araştırmada, açık
uçlu maddelere ilişkin, aynı sınananlar tarafından verilen yanıtların, birden
fazla puanlayıcı tarafından puanlanması durumunda, çok değişkenlik kaynaklı
Rasch ölçme modeli (ÇDKRÖM) ve hiyerarşik puanlayıcı modeli (HPM) ile
puanlayıcı katılık/cömertlik ve değişkenlik parametrelerinin kestirilmesi ve
her iki modele ilişkin parametrelerin birlikte değerlendirilmesi amaçlanmıştır.
Temel araştırma modelindeki araştırmanın verileri, 2012-2013 eğitim-öğretim
yılı ikinci döneminde Ankara ili Çankaya ilçesinde yer alan, 10 okulda öğrenim
gören, 15 yaş grubu 380 öğrencinin sekiz açık uçlu maddeye verdikleri yanıtlara
beş ortaöğretim matematik öğretmeni tarafından atanmış puanlardan oluşmaktadır.
Araştırma sonucunda, ÇDKRÖM ve HPM puanlayıcı parametre sonuçlarının genel
olarak benzer olduğu saptanmıştır. Her iki modele ait sapma bilgi kriteri
değerlerine göre; HPM’nin ÇDKRÖM’e göre araştırma verilerine daha iyi uyum
sağladığı, tek bir maddenin tek bir yanıtına ilişkin atanan çoklu puanlara ait
bir yapının HPM'yle daha iyi yansıtıldığı sonucuna ulaşılmıştır.
Çok değişkenlik kaynaklı Rasch ölçme modeli hiyerarşik puanlayıcı modeli puanlayıcı katılık/cömertlik ve değişkenlik parametreleri
Bölüm | Makaleler |
---|---|
Yazarlar | |
Yayımlanma Tarihi | 25 Nisan 2017 |
Yayımlandığı Sayı | Yıl 2017 Cilt: 6 Sayı: 2 |